国家知识信息显示，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司申请一项名为“CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法”的，公开号CN121068622A，申请日期为2025年7月分析仪器 。
摘要显示，本发明提供了一种CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法，包括芯片容器模块用于容纳不同型号的CMOS芯片；配置文件模块用于存储CMOS芯片的像素间距和芯片容器的原点坐标信息；数据导入模块用于导入CMOS芯片的成像缺陷坐标数据；坐标转换模块用于根据配置文件模块和数据导入模块，将缺陷坐标数据转换为显微分析设备的空间坐标；显微分析设备用于根据显微分析设备的空间坐标对缺陷源进行分析分析仪器 。本发明的坐标转换模块采用像素间距和原点位置等参数进行计算，确保了坐标转换的准确性，提高了缺陷源定位的精度。本发明通过配置文件模块和坐标转换模块，实现了从缺陷坐标读取到显微分析设备坐标转换的自动化，减少了人工干预，提高了分析效率。
天眼查资料显示，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业分析仪器 。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司参与招投标项目2次，信息1条，此外企业还拥有行政许可1个。
声明：市场有风险，投资需谨慎分析仪器 。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
来源：市场资讯