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飞纳仪器申请CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法，提高了缺陷源定位的精度:分析仪器
国家知识信息显示，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司申请一项名为“CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法”的，公开号CN121068622A，申请日期为2025年7月分析仪器。摘要显示，本发
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蓝盾光电：公司主营高端分析测量仪器研制:分析仪器
证券之星消息，蓝盾光电(300862)11月10日在投资者关系平台上答复投资者关心的问题分析仪器。投资者提问：请问公司物联网的产品用的是什么芯片分析仪器？是2G芯片吗？为什么不用星思半导体微信互
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